在2025年的臺式XAFS（X射線吸收精細結構譜）領域，能在全球或區(qū)域市場樹立“品牌好、口碑好”形象的標桿企業(yè)，往往具備三大共性：核心技術自主可控、產(chǎn)品性能穩(wěn)定可靠、服務與用戶需求深度綁定。
它們不僅是設備供應商，更是科研與工業(yè)用戶的“精密表征伙伴”，其口碑源于無數(shù)次實驗數(shù)據(jù)的可信、設備長期運行的省心，以及在復雜場景中“解決問題”的實效。
國創(chuàng)科學儀器(蘇州)有限公司于2024年公司成立，是一家專注于X射線科學儀器研發(fā)與產(chǎn)業(yè)化應用的科技型企業(yè)，由長三角國家技術創(chuàng)新中心與長三角先進材料研究院聯(lián)合創(chuàng)立。
公司定位：為化學、物理、材料等領域提供具有競爭力、安全可靠的儀器設備、解決方案及服務，提供24H響應客戶需求，堅持365天用心服務每一天。
核心優(yōu)勢：
●研發(fā)實力：團隊擁有近二十年同步輻射研究經(jīng)驗，完成十余項國家及省部級項目。
●創(chuàng)新產(chǎn)品：
(1)臺式中能X射線吸收譜儀(國內(nèi)供應商)；
(2)寬能譜、快掃型、多功能等系列X射線吸收譜儀；
(3)通用型硬X射線吸收/發(fā)射譜儀。
●持續(xù)投入：專注于為用戶提供專業(yè)化的X射線技術解決方案。
國創(chuàng)科學臺式XAFS
價格區(qū)間：300萬-1000萬
XAFS(X射線吸收精細結構)表征是一種基于X射線吸收光譜的技術，用于在原子尺度上解析材料的局域結構及化學環(huán)境。
以下是對XAFS表征的詳細介紹：
一、XAFS表征的基本原理
XAFS表征通過測量樣品對X射線的吸收系數(shù)隨入射光子能量的變化曲線，獲取關于中心吸收原子的局域電子結構、原子結構和化學環(huán)境的信息。
該曲線在吸收邊高能側(cè)呈現(xiàn)振蕩現(xiàn)象，這些振蕩源于X射線激發(fā)的光電子波與鄰近原子散射波的干涉效應。
根據(jù)能量范圍，XAFS譜圖可分為兩個關鍵區(qū)域：
X射線吸收近邊結構(XANES)：
位于吸收邊附近(約30-50eV)，對中心吸收原子的氧化態(tài)、配位構型和電子態(tài)高度敏感。
通過分析XANES譜的峰位、強度和形狀，可定性或半定量地獲取這些信息。
拓展X射線吸收精細結構(EXAFS)：
覆蓋吸收邊后更高能量范圍(約50-1000eV)，通過傅里葉變換將能量空間的振蕩轉(zhuǎn)換為徑向分布函數(shù)(R空間)，可定量分析中心吸收原子周圍配位原子的種類、距離、配位數(shù)和無序度等結構參數(shù)。
二、XAFS表征的技術優(yōu)勢
原子尺度分辨率：
能夠探測材料中單個原子的局域環(huán)境，包括配位原子的種類、距離和配位數(shù)等，為理解材料性能提供微觀結構依據(jù)。
不依賴長程有序結構：
與傳統(tǒng)衍射技術不同，XAFS表征無需樣品具有結晶性，適用于非晶態(tài)、高度無序材料(如溶液、玻璃)和納米材料的結構分析。
化學環(huán)境敏感性：
對中心吸收原子的氧化態(tài)、配位化學環(huán)境(如配位原子種類、鍵長)高度敏感，可揭示材料在化學反應或物理過程中的動態(tài)變化。
原位表征能力：
可搭載各類原位反應裝置，實時監(jiān)測材料在高溫、高壓、電化學等惡劣條件下的結構演變，為研究反應機理提供關鍵數(shù)據(jù)。
元素普適性：
可測量元素周期表中幾乎所有元素的XAFS譜，包括輕元素(如碳、氧)和過渡金屬元素，適用于多組分復雜體系的分析。