光敏電阻是用硫化隔或硒化隔等半導(dǎo)體材料制成的特殊電阻器，其工作原理是基于內(nèi)光電效應(yīng)。
光敏電阻器是利用半導(dǎo)體材料（硫化鎘晶體）的光電導(dǎo)效應(yīng)制成的一種阻值隨入射光的強(qiáng)弱而變化的特殊電阻，其特點(diǎn)是內(nèi)部的光敏層對光線非常敏感，光線照射弱時(shí)電阻增大，光線照射強(qiáng)時(shí)電阻迅速減小。
由于不同半導(dǎo)體材料制成的光敏電阻有不問的光譜特性，故光敏電阻有可見光（硫化鎘晶體）、紅外光（砷化鎵晶體）和紫外光光敏電阻（硫化鋅晶體）三種，它們廣泛應(yīng)用于光的測量、光的控制和光電轉(zhuǎn)換等領(lǐng)域，如各種光電自動控 制系統(tǒng)（如路燈自動控制、電視機(jī)亮度自動調(diào)整等）、紫外線探 測器、紅外光夜視器、無損探傷器等。
光敏電阻由光敏層、玻璃基片（或樹脂防潮膜）和電極等組成，并采用環(huán)氧樹脂或金屬封裝將其裝入具有透光鏡的密封殼體內(nèi)，以免受潮影響其靈敏度。
光敏層通常都制成薄片結(jié)構(gòu)，以便吸收更多的光能。
光敏電肌受光照射時(shí)的電阻稱為亮阻，其值在20kΩ以內(nèi)；沒有光照射時(shí)的電阻稱為暗阻，其值大于100MΩ。
圖
光敏電阻器的檢測方法
通�？捎萌f用表電阻擋對光敏電阻的暗阻和亮阻進(jìn)行檢測。
�。�1）暗阻檢測。
測試暗阻時(shí)，先用黑紙片遮住光敏電阻的受光窗口或用不透明的遮光罩將光敏電阻蓋住，見圖8 （b）。
然后將萬用表置Rx1KΩ或Rx10kΩ擋測其電阻值，此時(shí)萬用表讀數(shù)即為暗阻，阻值應(yīng)很大或接近于無窮大，通常為兆歐數(shù)量級。
暗阻越大，說明光敏電阻性能越好，若此值很小或接近于零，說明光敏電阻已損壞，不能繼續(xù)使用。
（2）亮阻檢測。
測試亮阻時(shí)，先在透光狀態(tài)下用手電筒照射光敏電阻的受光窗口，見圖8 （c）。
然后將萬用表置Rx1kΩ擋 測其電阻值。
此時(shí)萬用表讀數(shù)即為亮阻，阻值通常為數(shù)千歐或數(shù)十千歐。
亮阻越小，說明光敏電阻性能越好，若此值很大或?yàn)闊o窮大，說明光敏電附內(nèi)部已開路損壞，不能使用。
最后將手電筒移開，萬用表指針擺動幅度越大（阻值應(yīng)變大），光敏電阻性能就越好。
檢測注意事項(xiàng)
測試時(shí)注意，不可用手接觸光敏電阻引腳，以免減小阻值。
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